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分析手段

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透射掃描電鏡
發(fā)布時(shí)間: 2019-10-16 13:18:33

透射掃描電鏡

物質(zhì)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息




特點(diǎn):透射電鏡的加速電壓較高(一般為120-200kV),對(duì)于有機(jī)高分子、生物等軟材料樣品的穿透能力強(qiáng),

形成的透射像襯度低,而掃描電鏡的加速電壓較低(一般用10-30kV),因此應(yīng)用其STEM模式成透射像,可

大大提高像的襯度。


掃描電鏡的STEM模式觀察生物樣品時(shí),樣品無(wú)需染色直接觀察即可獲得較高襯度的圖像。


應(yīng)用:掃描電鏡STEM透射模式由于其襯度高、損傷小等特點(diǎn),非常適合于有機(jī)高分子、生物等軟材料的

結(jié)構(gòu)分析,將在此類材料的分析表征中發(fā)揮不可替代的作用。

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